通訊高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備用途：用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具。
通訊高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備特點(diǎn)
1）的造型設(shè)計(jì)，操作簡易之面板接口
2）采用日制*彩色觸控LCD中/英微電腦溫濕度控制器。
3）具有程序建文件及檔案管理之功能。
4）無紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線圖及記錄雙重功能。
5）冷熱沖擊機(jī)械移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi)，可符合MIL，IEC，JIS等規(guī)范。
6）冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5秒內(nèi)，可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。
7）采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快效率高。
8）的中/英文版聯(lián)機(jī)操作、設(shè)定、記錄軟件包。
主要技術(shù)參數(shù) ：
1．內(nèi)箱尺寸：500*400*400mm（寬，高，深）更多小或者大的尺寸均可非標(biāo)定制。
   外箱尺寸：1380*1980*1370mm（寬，高，深）非標(biāo)容積的設(shè)備外尺寸以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3．預(yù)熱溫度范圍：常溫～+200℃；
3．預(yù)熱高溫度范圍：常溫～200℃；約30min；（儲(chǔ)能溫度范圍）
4． 預(yù)冷溫度范圍：常溫～-75℃；約80,min（儲(chǔ)能溫度范圍）（注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）
5．試驗(yàn)方式：3溫區(qū)（也稱三箱式，愛佩還有兩箱式結(jié)構(gòu)可選擇)
6．溫度沖擊范圍：-65℃～+150℃(中間任意溫度可恒定測試或者設(shè)定沖擊）
7．溫度波動(dòng)度：±0.5℃
8．溫度偏差：±2.0℃
9．溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間：≤5min(負(fù)載;3KG塑膠)
符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。 
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 
GB/T 2423.22-2002溫度變化 
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則, 
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。
GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法； 
GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法；